Vaativampiin tarkasteluihin suosittelemme elektronimikroskooppia (SEM).

Jos näytteestä täytyy löytää pieniä eroja mikrorakenteessa, kemiallisissa koostumuksissa tai tarkasteltavat pinnat ovat epätasaisia (esim. murtopinnat), voidaan näytettä tarkastella elektronimikroskoopilla ja EDS-analysaattorilla.

 

Tyypillisiä SEM-tarkasteluja

• Murtopintojen tarkastelut
• Pienet yksityiskohdat mikrorakenteessa